MicroCore cuenta con la infraestructura para prestar servicios con técnicas especializadas en microscopía de campo claro, fluorescencia y microscopía confocal de barrido láser, microscopía de barrido de electrones, microscopía de barrido y transmisión de electrones, microscopía de haz de iones focalizados y microscopía de fuerza atómica. Adicionalmente presta el servicio de preparación de muestras según la técnica a utilizar y asesoría en el diseño de experimentos.
Estructura |
Tamaño |
Permite obtener información acerca de la topografía, rugosidad y el tamaño de nanopartícula o de la muestra.
Obtiene los dominios eléctricos en la superficie de las muestras y los contrasta con la topografía.
Permite obtener el potencial eléctrico en la superficie de las muestras.
Obtiene las propiedades piezo eléctricas en dos puntos distintos en la superficie de la muestra. Adicionalmente, da información acerca de frecuencia simple, la orientación del vector y medidas de histéresis.
Permite observar la variación de corriente sobre la superficie de la muestra.
El equipo permite realizar una medición del módulo de Young, adhesión de la superficie de la muestra y lo correlaciona con la topografía de la misma.
Dependiendo del tipo de muestra y el ensayo a realizar se pueden tener algunos inconvenientes en el momento de adquirir las imágenes del microscopio. Los microscopios de fluorescencia convencionales, producen una imagen que contiene información, no solo del plano enfocado, sino que captura la señal fluorescente de áreas o planos que se encuentran fuera de foco; esto genera ruido en las imágenes y en el fondo, representado en imágenes con bajo contraste y en ocasiones con falta de detalle. El microscopio confocal soluciona este inconveniente, bloqueando o rechazando la señal generada en planos que no están enfocados (fuera del plano focal). Esto se logra iluminando la muestra con rayo de luz láser que barre o escanea la muestra en un sistema punto a punto y línea por línea, además de la inclusión de una apertura (pinhole) que se encuentra conjugado con el plano de la imagen. De esta manera se logra controlar la profundidad de campo, se produce un fondo que permite un mayor contraste y se genera la capacidad de realizar cortes o secciones ópticas seriadas.
Se puede realizar seccionamiento óptico de las muestras por medio de un análisis multifoco, lo cual genera mayor contraste. A partir de dicho seccionamiento, se puede realizar una reconstrucción en 3D de la muestra. También permite realizar colocalización, permitiendo identificar si dos moléculas están en el mismo lugar en un instante de tiempo específico, pero que no se encuentran interactuando entre sí.
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El microscopio confocal de barrido láser permite obtener secciones ópticas a lo largo del eje z de una muestra Al realizar esta adquisición seriada de secciones ópticas es posible llevar a cabo análisis 3D, que permiten estudiar estructuras ubicadas en distintos planos de focales. Adicionalmente, mediante el procesamiento digital de las imágenes, es posible realizar reconstrucciones 3D de las estructuras observadas.
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Usando este tipo de microscopía, es posible hacer seguimientos a procesos in vivo durante periodos de tiempo determinados. Es posible controlar la temperatura y la humedad durante los periodos de observación.
El Secador de punto crítico SAMDRI®-795 es un equipo que mediante una serie de etapas de procesamiento, logra estabilizar y preservar la delicada estructura tridimensional de las muestras.
Con el fin de preservar la estructura tridimensional se debe evitar el repentino cambio de densidades (secado al aire) que se produce cuando el líquido “embebido” en la muestra y que permea su ultraestructura, se convierte en gas. Los líquidos que se utilizan para reemplazar el agua de las muestras tienen un punto crítico bien definido – una temperatura y presión específicas a volumen constante para cada uno de ellos -.
En el punto crítico las densidades en fase líquida y gaseosa de un fluido de transición son iguales; sin embargo no existe un límite de fase. Después que la transición de un líquido a fase vapor tiene lugar, la fase vapor puede ser removida (mientras esté por encima de la presión atmosférica) y la muestra secada preserva su estructura sin daños debido a las fuerzas de tensión superficial.
Uno de los requisitos para observar muestras en el MEB (en alto vacío) es que sean conductoras de corriente eléctrica, para que no se carguen causando la desviación del haz de electrones. Entonces, sí la muestra no es conductora se le debe aplicar un recubrimiento con un material conductor, como el carbono o el oro. El metalizador Desk® IV proporciona un recubrimiento de grano fino (100Å) uniforme y conductor, en un solo ciclo de revestimiento.
Técnica de recubrimiento con oro
Consiste en el depósito de una película fina de oro u oro-paladio sobre la muestra, en condiciones de baja presión (10-4 Torr). Esta técnica se emplea para la obtención de imágenes de electrones secundarios, ya que el oro es uno de los materiales que origina mayor emisión, conduciendo a mejores resultados.
Técnica de evaporación con carbono
Al hacer pasar corriente entre dos electrodos de grafito conectados a una fuente de corriente alterna de alta intensidad y bajo voltaje, una punta de grafito se sublima, rociando la muestra con una capa delgada de carbono. Todo el sistema está confinado en vacío para favorecer el depósito.
Esta técnica es apropiada cuando se realiza microanálisis elemental (EDS), ya que el bajo número atómico del C lo hace casi transparente a los rayos X emitidos por la muestra.
Especificaciones:
El equipo Secotom-15 de Struers es una avanzada máquina de corte de precisión con gran capacidad y flexibilidad de aplicación que cumple con las normas internacionales de seguridad. Secotom-15 tiene la capacidad de cortar piezas de trabajo grandes y profundas, de hasta 70mm de diámetro o de 165 x 50mm. La cesta de drenaje permite recoger y limpiar fácilmente las partículas grandes del proceso de corte.
Secotom-15 cuenta con una platina para graduar el movimiento en Y de forma automática. El centro de microscopía cuenta con un soporte adicional accesorio para graduar la posición en X de forma manual. Este equipo me permite disminuir el tamaño de muestras orgánicas, metales, concretos de baja densidad y distintos polímeros.
El ultramicrótomo Leica EM UC7 es de gran utilidad para realizar cortes semifinos (1um) y ultrafinos (hasta 50 nm). Este facilita la obtención de superficies lisas de muestras tanto biológicas como industriales, para ser utilizadas en análisis por TEM, SEM, STEM.
El microscopio cuenta con láseres de 405nm, 488nm, 559nm y 630nm.
Objetivos de 10x 0.25 y 10x 0.3
Ancho de la hoja de luz: 1 a 2 mm.
Sistema de iluminación transmitida de apertura numérica 0.2.
Dapi (480/40), GFP/FITC (525/50), mCherry (600/50), Rojo lejano (700/75) y otros que se pueden adicionar a la rueda de filtros.
Posibilidad de detectar varios colores simultáneamente con la misma cámara (optosplit).
Nota: todos los objetivos son de inmersión en agua
Apertura Numérica 0.8, Distancia de trabajo 3.5mm
Apertura Numérica 1.1, Distancia de trabajo 2mm
Andor Neo (5.5 Mp) enfriada a -40ºC. Se puede obtener hasta 100 imágenes por segundo en resolución completa. En modo hoja de luz tipo SPIM con movimiento de la muestra se obtiene un poco más de un plano por segundo.
El montaje de muestras en microscopía de hoja de luz es distinto al de microscopios derechos o invertidos, por lo que es indispensable hablar con el personal del centro antes de traer muestras para analizar.
Se tienen portamuestras para: Muestras directamente sobre cubreobjetos, en tubos de FEP y en capilares con agarosa de baja temperatura, los dos últimos con posibilidad de rotar la muestra.
Adicionalmente se tiene un sistema de calentamiento de agua (25 a 40ºC aprox.) para muestras sensibles a al temperatura o experimentos de largo plazo.